KGD测试分选设备，为KGD测试系统的Handler部分，与测试机一起构成完整的测试系统，

主要用于功率芯片动态、静态和雪崩测试，实施芯片性能指标筛选，提高封装后模块的良品率。

＃实战投产，确保碳化硅芯片良品率

＃ UPH：1000-5000（可选）