Edison 系列动态测试系统狙击SiC测试“测不准、测不全、不可靠”等卡脖子关键难点，实现测试主回路超低杂感，帮助器件动态特性的精准表征。

系统亮点：

·测得全——创新性层叠母排和电容结构设计，测试主回路杂感低至 6nH；

·测得准——高速、高带宽纳秒级电流采样，精准捕捉器件动态特性

·高可靠——高速、高频、高可靠驱动电路，共模瞬变抗扰度（CMTI）高达 200kV/μS；高速过流固态保护开关（2us极速启动），最大程度保护器件和设备；

·高适配——一站式动态测试系统，全面覆盖IGBT & SiC MOSFET，两电平&三电平，两端子模块&三端子模块，功率器件&功率单元

选型介绍：

· 实验室 & 生产线两版可选

实验室优选，极低杂感，全测试范围；可灵活配置软件及硬件，手动/自动自由切换

生产线版采用全新自动化方案，自动上下料，塑封模块300UPH极速测试

· 不同封装功率模块测试工装可选

专业定制不同封装功率半导体模块的测试工装

夹具自主选配，功能随需延展，售后无忧

· 丰富的测试模式可选

涵盖单脉冲、双脉冲、一类及二类短路等主流测试项