A12是一款12寸（兼容8寸）的高性能晶圆测试探针台，通过使探针卡与晶圆PAD点之间精准接触，实现晶圆WAT/CP测试，该设备操作简单并具有良好的机械稳定性，能为客户提供一个低成本且高产量的晶圆测试解决方案，满足（晶圆厂、封测厂、测试厂）等不同客户的测试需求。
产品亮点：
· 可实现12/8/6寸晶圆的WAT和CP测试
· 微米级全闭环运动控制，实现高精度自动扎针
· -55℃~200℃宽温度范围
· 快速准确的PMI针痕检测功能
· XY最大速度可达240mm/s，测试效率高
· 支持多芯wafer的Group编程和测试功能
· 机械手可接受超薄/翘曲/蓝膜/taiko等多种晶圆
· 自研一体化hinge设计，可接受任意测试机对接