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设备制造商Neosem获三星电子存储检测设备订单

来源:综合报道    2026-07-10
CLT是一款下一代腔式低频存储器检测设备,用于在老化测试后验证DRAM的二次稳定性。该设备可精确评估DRAM器件的低速数据读写操作、空闲状态稳定性和长期可靠性。

据The Elec报道,半导体测试设备制造商Neosem7月8日宣布与三星电子签订下一代存储检测设备CLT供货合同。

合同金额达86亿韩元,相当于Neosem 2025年合并营收639.4亿韩元的13.5%。按合同金额估算,每套系统的价格约在20多亿韩元区间。

CLT是一款下一代腔式低频存储器检测设备,用于在老化测试后验证DRAM的二次稳定性。该设备可精确评估DRAM器件的低速数据读写操作、空闲状态稳定性和长期可靠性。

这是Neosem首次公开披露向三星电子大规模供应CLT系统。尽管公司自去年起已接到小批量订单,但据信这些订单旨在进行设备质量和兼容性验证。此次订单是在三星电子完成设备性能和兼容性验证后下达的。因此,预计Neosem有望获得三星电子的额外CLT订单。今年来自三星电子的CLT系统和CIB合计订单已超过155亿韩元。

据悉,合同有效期至2026年12月31日。Neosem将采用自主生产和外包相结合的方式完成订单。设备将交付至三星电子温阳园区。