据匠岭科技官微消息，近日，继为高端存储芯片产线提供多位一体的薄膜与光学关键尺寸（Film + OCD）量测解决方案后，匠岭科技再次为12英寸先进逻辑芯片产线打造了SuperHiK™量测的完整解决方案，深度赋能客户在各关键薄膜量测环节的精准监控，保障高K材料超薄膜工艺的可持续量产，填补了本土化供应链在这个高壁垒环节的空白。

据悉，此次匠岭高端量测机台 TFT70 首次内嵌 SuperHiK™ 的创新方案，顺利出货行业内领先的12英寸集成电路制造产线。 匠岭科技坚持在光学量测领域攻坚布局，全面覆盖了前段工艺（FEOL）和后段工艺（BEOL）精准光学量测的多元化需求。

目前，匠岭科技已在Logic/Foundry、IDM、Memory、Analog & Power等集成电路制造产线，协同部署了多种类量测机台与经验丰富的技术支持团队，量测超百万片晶圆，致力于打造具有国际竞争力的光学量检测生态。