YMS，全称Yield Management System（良率管理系统），是一套集数据管理、数据分析、可视化、标准化功能于一体的专业数据分析工具。在半导体设计、晶圆制造、封装测试等过程中（尤其是量产阶段）能够帮助客户工程师大幅提升数据分析效率，快速分析一类或多类数据，找到提高良率的关键点，从而进一步促进整个生产过程稳定和可控、提升产品品质、降低企业成本。