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国芯科技:汽车电子离手检测触控MCU新品内测成功

来源:综合报道    2026-06-18
该芯片基于40nm eFLASH工艺,集成32KB SRAM、512KB FLASH、CANFD、TSI触控模块(16通道)等。

6月17日,苏州国芯科技股份有限公司(以下简称“国芯科技”)发布公告称,公司研发的新一代汽车电子离手检测触控MCU产品CCM4202S-O在公司内部测试中获得成功。

该芯片基于40nm eFLASH工艺,集成32KB SRAM、512KB FLASH、CANFD、TSI触控模块(16通道)等,按照汽车电子Grade2等级、功能安全ASIL-B等级设计和生产,封装形式包括LQFP48/LQFP64等。