联讯仪器WAT 半导体参数测试系统基于自主研发pA/亚pA高精度源表，半导体矩阵开关，高电压半导体脉冲源，3500V高压源表等基础仪表，掌握核心技术，通过优化整机软硬件设计，进一步提高系统精度，提升稳定性，一致性，为半导体参数测试提供高可靠性的测试解决方案。
WAT6600 并行参数测试系统主要特点：
1.配置Per-Pin SMU，最高达48个SMU，极大提高测试效率
2.高分辨率、亚pA级电流测试精度，满足工艺研发和量产的全部测试需求
3.最大电压范围200V，最大电流范围1A
4.支持所有种类商用探针台
5.支持集成第三方仪表
6.软件可配置，支持用户开发测试程序和算法