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奥宝科技面向中国区客户隆重推出Orbotech Spectrum 解决方案

来源:国际信息显示学会SID    2021-08-31
奥宝科技最新推出的Orbotech Spectrum解决方案,这一系列解决方案由独特的差异化技术驱动,可全方位支持 OLED 显示器制造流程,助力客户最大限度地提高产量。
奥宝科技最新推出的Orbotech Spectrum解决方案,这一系列解决方案由独特的差异化技术驱动,可全方位支持 OLED 显示器制造流程,助力客户最大限度地提高产量。



创新的全系列OLED解决方案以彩虹光谱形式呈现,包含6大功能,主要用于生产环节的前期检测和后期测试。及早探测制程宏观缺陷的MacroSpect™,同步优化显示区域和外围区域的OptoSpect™,可修复的致命缺陷和及早发现eMura的ElectroSpect™,克服膜层工艺波动影响的TouchSpect™,解决叠层内发生工艺问题的3DSpect™,以及强化检出与分类的AISpect™。此次解决方案,奥宝科技着重强调针对OLED TFT背板的两个新系统OptoSpect™和ElectroSpect™,实现OLED面板全覆盖检测。

MacroSpect™ – 在线 mura 检测 mura 的可视化与检测

创新的奥宝科技的 MacroSpect™ 工艺监控组合能够在线检测 OLED 显示器制造早期阶段出现的关键宏观缺陷。ElectroSpect 技术可以在早期近阶段及时检测到与显示屏点灯测试时完全 相关的电学 mura 缺陷 Mura 电学测试 OptoSpect 和数字宏观技术可以做到一次扫描和T工艺节拍内同时提供优化的微观和宏观检测,奥宝 OASIS™ 与检测和电学测试数据之间的协同作用,实现了早期自动 Mura 检测

OptoSpect™ – 多方位光学检测零缺陷

奥宝科技创新的多重检测技术使最先进的 OLED 显示器的高良率制造成为可能 OptoSpect 在一次扫描中提供显示区域和外围区域的优化和同步的检查基于 使用多种照明类型的超模态方式OptoSpect 确保对任何设计,生产工艺和外形要素可全面覆盖检测。

ElectroSpect™ – 及时与全面电学检测

ElectroSpect™ – 及时与全面电学检测 超高速的每个像素和线检测奥宝独特的 ElectroSpect™ 技术能够早期检测可修复的致命缺陷和传统 上只有在显示屏点亮测试阶段才发现的电学 mura ElectroSpect 技术由确 保对每个像素和线进行超快速电学测试的奥宝科技新型、高性能、独特的 图像采集相机驱动,从而实现对每个 OLED 面板的 100% 测试。

TouchSpect™ – 致命缺陷的精确定位

无缺陷的 TFE 封装层上的触控电路奥宝科技 TouchSpect™ 智能检测技和电学测试组合提供可修复缺陷的精确 位置,确保无缺陷的 TFE 封装层上的触控电路。TouchSpect 技术为克服长 距离比对和触控电路下面膜层噪声相关的挑战而设计。TouchSpect Inspection 能够不受到触控电路下层工艺波动影响,对比对距离变化的图案进行准确检测 TouchSpect 检查解决方案 高分辨率热成像提供了准确的缺陷位置和TFE结构上触控电路的视觉呈现。

3DSpect™ – 3D 量测 OLED 封装质量

奥宝科技独特的 3DSpect™ 3D 量测技术测定 OLED 和薄膜封装层堆叠中任何工艺问题的源层,确保了可延长 OLED显示寿命完美封装层。可以直观观察和分类透明封装层的膜内和膜上缺陷、mura 和边缘偏移 Insight 光源 - 能快速和准确的z方面定位和量测嵌在透明叠层中的颗粒 - 提供高速、高精度的表面高度和地貌量测。

AISpect™ – 奥宝科技 OASIS™ 

AISpect™ – 奥宝科技 OASIS™ 人工智能的检出提升与分类 Reported Defects 奥宝科技独特的 3DSpect™ 3D 量测技术测定 OLED 和薄膜封装层堆叠中任何工艺问题的源层,确保了可延长 OLED显示寿命完美封装层。利用OptoSpect 技术和人工智能算法,对所有致命缺陷的捕获提供独特在线检测和分类 人工智能在线缺陷分类实现对工艺重大问题进行早期预警的自动和准确的致命缺陷分类,从而提高 制程监控和减少报废 AI 自动缺陷分类(ADC)检测所有点缺陷,降低误报和致命点缺陷漏检,以及提高良率。
奥宝科技将持续深耕显示生产过程控制,与中国区客户深化合作,不断为显示行业呈现高质量,高数量,可持续发展的产品,实现长期共赢。
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